液體油槽式溫度沖擊試驗箱
產(chǎn)品分類： 行業(yè)專用試驗設(shè)備
液體油槽式溫度沖擊試驗箱用于確定電子產(chǎn)品、組件、材料等在超高溫和超低溫油槽內(nèi)溫度循環(huán)變化對產(chǎn)品的影響及產(chǎn)品性能變化。
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一、主要技術(shù)指標(biāo)及簡要配置：
液體油槽式溫度沖擊試驗箱用于確定電子產(chǎn)品、組件、材料等在超高溫和超低溫油槽內(nèi)溫度循環(huán)變化對產(chǎn)品的影響及產(chǎn)品性能變化。
| 產(chǎn)品名稱 | 液體油槽式溫度沖擊試驗箱 |
| 產(chǎn)品型號 | WS-CJ-64L |
| 裝載容量 | 64L |
| 裝載重量 | 20kg |
| 載冷劑（合成油）加注量 | 250L（雙槽） |
| 提籃尺寸 （W×D×H） | 400×400×400 mm |
| 液槽內(nèi)箱尺寸（單槽）（W×D×H） | 550×700×600 mm |
| 設(shè)備外形尺寸 （W×D×H） | 1650×1450×1550 mm |
| 高溫槽溫度范圍 | 室溫+25℃～+165℃ |
| 低溫槽溫度范圍 | 室溫+25℃～-75℃ |
| 沖擊溫度范圍 | -65℃～+150℃ |
| 溫度波動度 | ≤±0.2 ℃ |
| 溫度偏差 | ≤±0.5℃ |
| 高低溫沖擊提籃轉(zhuǎn)換時間 | ≤8S |
| 溫度恢復(fù)時間 | ≤20秒 |
| 溫度恢復(fù)條件 | 滿載條件下，高溫浸泡（+150℃）30min，低溫浸泡（-65℃）30min |
| 升溫速率 | 室溫升至+160℃≤60min（空載） |
| 降溫速率 | 室溫降至-75℃≤80min（空載） |
| 供電電源 | 三相五線制/380VAC，50Hz |
| 裝機功率 | 12.5kW |
| 工作噪聲 | ≯68dB(A) |
| 冷卻方式 | 風(fēng)冷 |
| 制冷方式 | 斯特林二元復(fù)疊制冷系統(tǒng)（SMRC），加低溫冷頭，比傳統(tǒng)的二元復(fù)疊系統(tǒng)更加可靠穩(wěn)定，更加節(jié)能。 |
| 提籃驅(qū)動單元 | 高可靠電動驅(qū)動系統(tǒng)，采用臺灣的螺桿減速電機，運行安全可靠。 |
| 熱傳導(dǎo)介質(zhì) | 合成導(dǎo)熱油。價格高昂的進口油分高低溫兩種，沖擊試驗混合以后還要更換。我們采用的合成導(dǎo)熱油，同一種工質(zhì)，同時耐受高低溫，無需換油，在使用過程中，只需進行少許的添加即可。 |
| 制冷壓縮機 | 制冷先鋒，歐洲谷輪蝶閥式壓縮機 穩(wěn)定可靠，效率比高 |
| 加熱系統(tǒng) | 鎳鉻合金不銹鋼加熱器，專業(yè)廠家生產(chǎn) |
| 溫度傳感器 | 高溫區(qū)、低溫區(qū)和產(chǎn)品區(qū)各有1個溫度傳感器，瑞典進口A級Pt100 |
| 溫度變送器 | 瑞典INOR高精度溫度變送模塊 |
| 控制系統(tǒng) | Temi8229 |
| 可編程控制器 | 日本松下FP-X系列+自主開發(fā)程序 |
| 觸摸操作屏 | 超大真彩7″觸摸屏+自主開發(fā)界面 全角度自由調(diào)節(jié)平臺，便于操控 WinCE操作系統(tǒng) 可提供C++、Labviw等全系列驅(qū)動代碼，可以實現(xiàn)二次開發(fā)。 |
| 產(chǎn)品附件 | φ50mm引線孔1個，并配備配套硅膠軟塞、遠程控制軟件， |
| 試驗?zāi)Ｊ?/td> | 高溫試驗、低溫試驗及沖擊試驗，根據(jù)需要自由設(shè)定 |
| 數(shù)據(jù)存儲 | 配備USB/R232接口，全部運行數(shù)據(jù)實現(xiàn)自由存儲，并可實現(xiàn)自由導(dǎo)出 |
| 遠程控制 | 配備RS232接口，可實現(xiàn)遠程監(jiān)測和控制 |
| 滿足標(biāo)準(zhǔn) | GB/T10589-2006 低溫試驗箱技術(shù)條件 GB/T11158-2006 高溫試驗箱技術(shù)條件 GB/T10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件 GB/T 2423.1-2001 試驗A：低溫試驗方法 GB/T 2423.2-2001 試驗B：高溫試驗方法 GJB 150.3A-2009高溫試驗 GJB 150.4A-2009低溫試驗 GJB150.5A-2009 軍用設(shè)備實驗室環(huán)境試驗方法第5部分：溫度沖擊試驗 GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)鑒定方法 溫度試驗設(shè)備 GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化 |
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